納米粒度分析儀是一種用于測量納米級顆粒尺寸分布的儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、制藥、食品、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。它的基本原理是利用光散射、動態(tài)光散射技術(shù)等方法來分析顆粒的大小、分布和形態(tài)。

　　一、基本原理

　　納米粒度分析儀的工作原理通常基于動態(tài)光散射技術(shù)。DLS是一種利用光的散射現(xiàn)象，通過分析顆粒在溶液中的布朗、運(yùn)動來測量顆粒粒度的技術(shù)。

　　1布朗運(yùn)動：布朗運(yùn)動是微小顆粒在液體中由于熱運(yùn)動而發(fā)生的無規(guī)則運(yùn)動。納米級顆粒的布朗運(yùn)動速度與顆粒的大小密切相關(guān)，較小的顆粒運(yùn)動較快，而較大的顆粒運(yùn)動較慢。

　　2、光散射原理：當(dāng)激光光束照射到顆粒時，顆粒會反射或散射光線。根據(jù)散射光的強(qiáng)度和角度變化，可以獲得顆粒的運(yùn)動速度。DLS技術(shù)通過分析散射光的時間相關(guān)性，來推算顆粒的尺寸分布。
 

　　二、工作機(jī)制

　　納米粒度分析儀的工作機(jī)制可以分為幾個主要步驟：

　　1、激光照射與光散射

　　首先，激光束被導(dǎo)入樣品池，照射到樣品中的納米顆粒。當(dāng)激光光束照射到樣品中的顆粒時，顆粒會發(fā)生散射現(xiàn)象。顆粒的大小、形狀、折射率等因素影響光的散射模式。

　　2、檢測散射光

　　散射光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)的透鏡和濾光片，通常會被一個探測器接收。不同角度的散射光可以提供關(guān)于顆粒大小的不同信息，常見的角度測量包括前向散射和側(cè)向散射。

　　3、光的自相關(guān)函數(shù)分析

　　通過采集散射光的強(qiáng)度隨時間的變化，儀器會生成光強(qiáng)的自相關(guān)函數(shù)。通過對自相關(guān)函數(shù)的數(shù)學(xué)處理，尤其是利用庫倫模型等理論模型，可以推導(dǎo)出顆粒的平均尺寸、粒度分布、分布寬度等信息。

　　4、數(shù)據(jù)處理與輸出

　　通過對散射數(shù)據(jù)進(jìn)行復(fù)雜的數(shù)學(xué)處理，如反演算法，會根據(jù)測得的散射數(shù)據(jù)計(jì)算出顆粒的粒度分布圖。結(jié)果通常以粒度分布直方圖的形式呈現(xiàn)，顯示顆粒的不同粒徑及其占比。

　　納米粒度分析儀的基本原理依賴于動態(tài)光散射技術(shù)，通過分析顆粒在溶液中的布朗運(yùn)動，結(jié)合光散射強(qiáng)度的變化，來測量顆粒的大小和分布。這種方法具有高分辨率、快速、無損等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域。